时序电路的模糊化测试生成算法

刘晓东; 张毅刚; 孙圣和

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时序电路的模糊化测试生成算法

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文章提出的模糊化的时序电路测试生成算法不明确指定故障点的故障值,它将故障值模糊化,并以符号表示。本算法第一阶段通过计算状态线和原始输出端的故障值来寻找测试矢量,通过计算故障点的正常值来寻找测试矢量对应的故障类型;第二阶段用故障点的正常值作为约束条件计算故障点的另一个测试矢量。与传统的算法不同,它不需要回退和传播的过程。实验结果表明本算法具有较高的故障覆盖率和较少的测试时间。

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来源
《微电子学与计算机》 |2002年第10期|24-25|共2页
作者
刘晓东; 张毅刚; 孙圣和;
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作者单位

哈尔滨工业大学;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
模糊化; 算法; 测试生成; 时序电路; 故障值模糊化;

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