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基于模型化和非模型化错误的重复测试生成和诊断方法

摘要

本发明涉及一种基于模型化和非模型化错误的重复测试生成和诊断方法。具体地说,涉及可应用于结构VLSI设计以解决与错误测试器交互模式生成关联的问题的诊断和特征描述工具以及在实现更高故障分辨能力的同时有效降低诊断测试时间的方法。经验故障数据驱动将故障定位到精确位置的自适应测试模式的创建。此过程将一直重复,直到实现了必要的定位。将故障签名和关联标注以及故障签名和自适应模式都存储到库中以促进诊断分辨能力。并行测试器应用和自适应测试生成提供了资源的有效使用,同时降低了整体测试和诊断时间。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-12-26

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 授权公告日:20100922 终止日期:20111024 申请日:20071024

    专利权的终止

  • 2010-09-22

    授权

    授权

  • 2008-06-25

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-04-30

    公开

    公开

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