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基于有限元法的包装箱抗压性能研究

         

摘要

针对目前采用的测试技术物理测试方法存在着成本高,结果具有随机性和粗糙性等缺陷,应用分析软件ANSYS建立瓦楞纸箱的有限元模型,模拟实际的流通环境对模型施加载荷,从而求得瓦楞纸箱的抗压强度。数值分析结果与采用实验分析结果基本一致,验证了模型的有效性。

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