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球形压痕法评价(Ti,Nb)N膜层断裂性能

         

摘要

采用球形压痕试验 ,在高速钢基体上对电弧离子镀工艺沉积制备的 (Ti,Nb)N膜层断裂性能进行评价。在6 0 0N载荷下 ,在压痕的周围只产生径向裂纹 ;统计分析压痕周围产生的裂纹 ,采用裂纹密度函数 β ,对膜层的断裂性能进行了分析。结果表明 :(Ti,Nb)N均质膜层在显微硬度提高的同时 ,裂纹密度 β增加 ,膜层的脆性增大 ,断裂韧度下降。TiXNb1 -XN梯度膜具有较高膜层显微硬度 ,仍然具有较好的断裂韧度 ,预渗氮处理的膜层裂纹密度较小 ,膜层的断裂韧度最好。采用裂纹密度函数 β统计分析 ,通过对 (Ti,Nb)N膜层压痕试验 。

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