Ta_2O_5介质膜性能对液体钽电容器性能的影响

陆胜; 刘仲娥; 梁正书; 刘凌; 阴学清

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Ta_2O_5介质膜性能对液体钽电容器性能的影响

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摘要

叙述了钽电解电容器阳极Ta2O5介质膜的形成过程,分析了电解液闪火与氧化膜击穿的微观过程。利用扫描电子显微镜(SEM)分析了阳极氧化后及产品失效后阳极钽芯表面介质膜的微观结构,并对液钽电容器失效机理进行了探讨。结果表明,介质膜内杂质或缺陷处O2-放电产生的电子发射是电解液闪火和氧化膜击穿的前驱点;在高电场或高温度的作用下,介质膜的场致晶化和热致晶化是液体钽电解电容器失效的主要模式。

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来源
《压电与声光》 |2006年第4期|475-477|共4页
作者
陆胜; 刘仲娥; 梁正书; 刘凌; 阴学清;
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作者单位

天津大学电子信息工程学院;

国营第4326厂;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TM535.1;
关键词
Ta2O5介质膜; 液体钽电解电容器; 失效机理;

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