一种有效的双矢量测试BIST实现方案

张金林; 陈朝阳; 沈绪榜; 张晨

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文章提出了一种简单有效的双矢量测试BIST实现方案,其硬件主要由反馈网络可编程且种子可重置的LF鄄SR和映射逻辑两部分构成。给出了一种全新的LFSR最优种子及其反馈多项式组合求取算法,该算法具有计算简单且容易实现的特点。最后,使用这种BIST方案实现了SoC中互联总线间串扰故障的激励检测,证明了该方案在计算量和硬件开销方面的优越性。

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来源
《微电子学与计算机》 |2004年第4期|116-120|共5页
作者
张金林; 陈朝阳; 沈绪榜; 张晨;
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作者单位

华中科技大学图象识别与人工智能研究所教育部重点实验室;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类光敏电阻;
关键词
SoC测试; 内建自测试(BIST); 双矢量测试; MAF; 模型;

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