基于March X算法的SRAM BIST的设计

冯国臣; 沈绪榜; 刘春燕

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基于March X算法的SRAM BIST的设计

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针对LS-DSP中嵌入的128kbSRAM模块,讨论了基于MarchX算法的BIST电路的设计。根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率,讨论了测试算法的选择、数据背景的产生;完成了基于MarchX算法的BIST电路的设计。128kbSRAMBIST电路的规模约为2000门,仅占存储器面积的1.2%,故障覆盖率高于80%。

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来源
《微电子学与计算机》 |2005年第12期|44-47|共4页
作者
冯国臣; 沈绪榜; 刘春燕;
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作者单位

西安微电子技术研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类算法理论;
关键词
SRAM.测试; March算法; BIST;

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