基于多通道控制器的扫频近场测量

李勇; 李焱明; 刘征

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基于多通道控制器的扫频近场测量

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为了对被测天线进行快速?定量的动态测量,获得天线频带特性的实时测量结果,可以采用多通道扫频近场测量方法。本文提出了一种采用85301B天线自动测量系统,使用HP85330A作为系统控制器的多通道扫频近场测量方法。在一定的频段内进行点频和扫频测试,将点频和扫频近场数据变换成远场方向图,并对各频点的数据进行比较分析。最后分析了误差产生原因并给出了一种修正方法。测试数据表明与传统的点测法相比,有效地降低了测量时间,提高了测量系统的测试效率。

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来源
《电子测量与仪器学报》 |2009年第3期|54-59|共6页
作者
李勇; 李焱明; 刘征;
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作者单位

西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类一般性问题;
关键词
天线近场测量技术; 多通道扫频测量; HP85330A;

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