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一种基于嵌入式微处理器内核模块的测试

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摘要

基于可复用的嵌入式IP内核模块的系统级芯片(SoC)设计方法使测试面临新的挑战。文章针对IP内核模块测试所面临的技术难点,介绍了IP核模块实现测试所需要构建的硬件环境和通用结构,并以嵌入ARM微处理器核的SoC为例,提出了具体的测试解决方案。

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来源
《微电子学与计算机》 |2005年第10期|66-69|共4页
作者
黄俊; 须文波; 李辉;
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作者单位

江南大学信息工程学院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类调整、测试、校验;
关键词
系统级芯片; 知识产权(IP); 微处理器核; 内建自测试;

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