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ICP-AES中光谱干扰的计算机模拟——Ⅳ.不同分辨率条件下谱线互相干扰的模拟

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摘要

本实验从仪器变宽角度出发,通过计算机模拟方法观察了不同分辨率条件下谱线之间的干扰情况。这种模拟既有助于样品分析前对仪器分光条件进行合理选择,又可为单色器的性能比较提供有益的参考依据。

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来源
《分析测试通报》|1992年第5期|13-18|共6页
作者
孙大海; 张展霞;
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作者单位

中山大学化学系;

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正文语种 chi
中图分类原子发射光谱分析法;
关键词
ICP-AES; 光谱干扰; 计算机模拟;

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