轧制变形量对高纯银组织和电阻率的影响

宋友宝; 龙伟民; 马佳; 侯江涛; 钟素娟

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轧制变形量对高纯银组织和电阻率的影响

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对高纯银板进行多道次冷轧,研究不同轧制总变形量下高纯银的显微组织和电阻率。结果表明：轧制变形量为85.7%时,晶粒较粗大且大小不均匀,晶粒大小约100~200μm,变形量在95%以上时,晶粒开始变得细小,晶粒大小在20μm以下,高纯银晶粒随轧制变形量的增大而减小;当轧制变形量为85.7%时,电阻率为15.9 mΩ·mm2/m,变形量为99.6%时,电阻率为16.7 mΩ·mm2/m,高纯银电阻率随轧制变形量的增加而增大,生产中可通过控制轧制变形量来调控高纯银熔体材料的电阻率。

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来源
《电工材料》 |2016年第2期|7-9|共3页
作者
宋友宝; 龙伟民; 马佳; 侯江涛; 钟素娟;
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作者单位

郑州机械研究所新型钎焊材料与技术国家重点实验室;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类金属导电材料;熔断器、保险丝装置;
关键词
高纯银; 轧制变形量; 显微组织; 电阻率;

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