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杨晓平; 李征帆;
上海交通大学电子工程系;
高速集成电路; 先进封装工艺; 同步开关噪声; IBIS模型; 噪声抑制; 封装结构;
机译:新型同步开关噪声分析和建模,适用于高速和高密度CMOS IC封装设计
机译:使用3D堆叠芯片封装中的硅通孔来抑制功率/接地电感阻抗和同时的开关噪声
机译:针对高速和高密度CMOS IC封装设计的新型同时开关噪声分析和建模
机译:封装天线超宽带同步开关噪声抑制的电磁兼容性分析
机译:用于减轻高速封装中宽带开关噪声的电磁带隙结构
机译:Flexi Chip封装:具有专用分析软件的通用芯片用于与抗疟疾药物耐药性相关的高通量SNP检测
机译:用于高速电路的Bond无线多芯片封装技术(重新公布新的可用性信息)
机译:高速,高密度CMOS IC封装设计的新型同时开关噪声分析与建模方法
机译:超高速大型系统集成芯片的封装和结构
机译:用于抑制由于切割和芯片封装相互作用故障而造成的线路后端损坏的结构
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