集成电路(IC)的故障分析

机译：集成电路安全性：使用故障分析技术的抗攻击性（I）-从故障分析技术的角度看LSI的篡改抵抗

机译：集成电路安全性：使用故障分析技术（i）抗攻击 - 从故障分析技术免受LSI的推动

机译：通过对通过IC引脚的放电电流进行测量和建模来分析由于带电板事件引起的IC故障分析

机译：三维集成电路（3D-IC）中的硅通孔的故障分析

机译：基于模式识别的IC故障分析方法。

机译：三维集成电路（3D IC）关键技术：硅通孔（TSV）

机译：开发用于多尖端扫描探针显微镜的强大检测电子设备，用于集成电路故障分析

机译：LsI（大规模集成电路）/ VLsI（超大规模集成电路）离子注入Gaas IC处理。

机译：故障分析半导体集成电路的方法，故障分析设备和故障分析程序

机译：IC故障分析方式及故障分析装置

机译：半导体集成电路的故障分析仪和故障分析方法