PicoScopeDeepMeasure^(TM)可对每次采集的上千万个关键波形参数进行测量——波形分析和搜索功能可帮助验证复杂设备的特点和性能

首页> 中文期刊> 《电子测量与仪器学报》 >PicoScopeDeepMeasure^(TM)可对每次采集的上千万个关键波形参数进行测量——波形分析和搜索功能可帮助验证复杂设备的特点和性能

PicoScopeDeepMeasure^(TM)可对每次采集的上千万个关键波形参数进行测量——波形分析和搜索功能可帮助验证复杂设备的特点和性能

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

英国比克科技（Pico Technology）近日推出Deep Measure分析工具。作为Pico Scope 3000、4000、5000和6000系列示波器包含的标准配置,Deep Measure可提供波形参数的自动测量,测量范围可达上千万个连续波形周期。可以方便地对结果进行排序、分析并与波形显示关联。随着电子设备的日益复杂化,设计工程团队需要更好的工具来记录、分析和可视化波形数据及测量统计数据。大部分数字示波器提供频率、时段、

著录项

来源
《电子测量与仪器学报》 |2017年第8期|1256-1256|共1页
作者

展开▼
作者单位

展开▼
原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类数据处理、数据处理系统;
关键词
波形参数; TM; 波形分析; 搜索功能; Pico; 自动测量; 波形数据; 比克; 测量统计; 设计工程;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. PicoScopeDeepMeasure^(TM)可对每次采集的上千万个关键波形参数进行测量 [J] . . 国外电子测量技术 . 2017,第8期
2. PicoScopeDeepMeasure^(TM)可对每次采集的上千万个关键波形参数进行测量 [J] . . 电子测试 . 2017,第8X期
3. PicoScope DeepMeasure^(TM)可对每次采集的上千万个关键波形参数进行测量 [J] . . 中国集成电路 . 2017,第10期
4. 安捷伦科技推出业界首款针对下一代存储设备和电信元器件及系统的波形分析解决方案——新功能包括先进的抖动和复杂的调制分析,以及业界首款16X光纤通道解决方案 [J] . . 国外电子测量技术 . 2009,第7期

PicoScopeDeepMeasure^(TM)可对每次采集的上千万个关键波形参数进行测量——波形分析和搜索功能可帮助验证复杂设备的特点和性能

摘要

著录项

相似文献

相关主题

期刊订阅