电子产品失效率的Bayes估计

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• 来源
  《机电产品开发与创新》 |2007年第3期|6-8|共3页
• 作者

  方正; 朱建新; 高增梁; 杨铁成;

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• 作者单位

  浙江工业大学化工机械设计研究所,浙江,杭州,310032;

  浙江工业大学教育部机械制造与自动化重点实验室,浙江,杭州,310032;

  浙江工业大学化工机械设计研究所,浙江,杭州,310032;

  浙江工业大学教育部机械制造与自动化重点实验室,浙江,杭州,310032;

  浙江工业大学化工机械设计研究所,浙江,杭州,310032;

  浙江工业大学教育部机械制造与自动化重点实验室,浙江,杭州,310032;

  合肥通用机械研究院,安徽,合肥,230031;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 应用统计数学;
• 关键词

  Bayes理论; 指数分布; 失效率;