首页> 中文期刊> 《电气技术》 >基于FPGA的变压器绕组变形测试仪研制

基于FPGA的变压器绕组变形测试仪研制

         

摘要

本文根据变压器绕组变形频率响应法的原理,利用FPGA可以嵌核和并行处理的优势,设计了变压器绕组变形测试仪.信号发生器采用FPGA核控制AD9854产生扫频信号,扫频频段可以是0~8MHz内任意频段.并通过低通滤波器得到纯正的正弦波信号,最后经幅值放大和功率放大产生可供变压器绕组测试的信号.该测试仪能够测量变压器的幅频和相频特性,通过软件实现幅频曲线和相频曲线分开测试,在幅频测试上采取直接采样经有效值转换后获得信号的方法,使得幅频特性的测量更为快速.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号