关于如何规避PCB测试点对半导体器件静电损伤的隐患

方玉胡

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关于如何规避PCB测试点对半导体器件静电损伤的隐患

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本文主要对控制器在静电损伤故障中,关于设计方面,如何规避静电损伤问题,从PCB的特殊部位入手,通过设计上的改进,规避控制器因半导体器件的布局不合理,进而导致主板半导体失效的问题.从PCB设计着手,通过结合生产流程、安装流程、设备工装等影响因素,从实际出发,大幅减少控制器制造过程中的ESD和EOS问题.

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来源
《电子产品世界》 |2017年第12期|56-57,60|共3页
作者
方玉胡;
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作者单位

格力电器(合肥)有限公司,安徽合肥 230088;

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正文语种 chi
中图分类
关键词
静电; 设计; PCB;

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