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IC业在拐点生存

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摘要

分析了IC业的众多特点,例如从90nm向65nm、45nm、32nm、22nm等拐点演进的困难,以及ESL、DFM拐点,制造是设计的拐点,FPGA与ASIC之间的拐点等热门问题.

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来源
《电子产品世界》 |2008年第8期|74-83|共10页
作者
迎九;
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作者单位

《电子产品世界》记者;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类工业经济;
关键词
EDA; 65nm; 45nm; 22nm; 光刻;

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