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李洁; 吴昌英;
西北工业大学电子信息学院;
探针卡; Teradyne J750测试机; 晶片测试;
机译:用于测试5G WLCSP封装的弹簧微控制器测试卡解决方案的评估
机译:FormFactor宣布推出与DDR3兼容的全晶片探针卡,为SoC开发25/50μm交错MEMS探针技术
机译:用于晶片探针测试数据建模和分析的多元统计方法
机译:接地保护结构可减少用于晶片级测试的垂直探针卡中的串扰噪声和电磁干扰(EMI)
机译:用于新型MEMS晶圆探针卡的微探针的设计,仿真,制造和测试。
机译:纸质测试卡用于非常低质量的抗疟药物的推定性测试
机译:用于光子集成电路的晶片级测试的3D印刷光学探针
机译:基于微控制器的测试平台的设计,构建和编程,适用于微电子电路的辐射测试
机译:用于晶片测试的探针卡以及具有该探针卡的晶片测试仪
机译:半导体晶片封装,用于连接半导体晶片的测试端子和探针端子的方法和装置,半导体集成电路的测试方法,探针卡及其制造方法
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