在设计中使用边界扫描

机译：使用边界扫描的多种扫描设计的测试数据解压缩

机译：使用边界扫描设计和实现架构

机译：2.5D IC中的硅中介层基于边界扫描的互连测试设计

机译：使用Texas Instrument的Scope架构设计IEEE 1149.1兼容边界扫描逻辑进入ASIC中的ASIC

机译：内置的自检功能可通过边界扫描进行互连故障。

机译：使用遗传分析研讨会16中使用全基因组病例对照数据检测类风湿关节炎中基因×基因相互作用的仅病例设计的比较

机译：使用边界扫描标准的分层可测试体系结构的设计和实现

机译：用于直接芯片连接（DCa）测试的边界扫描测试车

机译：具有边界扫描测试和设计自动化装置的半导体集成电路装置，边界扫描测试方法和程序

机译：使用嵌入式边界扫描链处理未使用的核心软件，从而避免在自定义实例创建过程中使用边界扫描综合工具

机译：使用嵌入式边界扫描链处理未使用的核心软件，从而避免在自定义实例创建过程中使用边界扫描综合工具