在设计中使用边界扫描

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在设计中使用边界扫描

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大多数电子工程师都了解边界扫描(边界扫描有时也称为JTAG、Scan和B—Scan)，但可能许多人在设计中并没有使用这种用途广泛的测试技术。边界扫描也称为IEEE1149，它可提供许多好处，远远不止是测试印刷电路板(PCB)上的导线连接状态。设计人员现在利用边界扫描技术来初始化内建自测试(BLED操作、编程闪存器件、检查模拟器件以及测试高速串行路径。

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来源
《电子产品世界》 |2004年第11B期|P.70-73|共4页
作者
JonTitus;
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作者单位

ECN资深技术编辑;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类测试和检验;
关键词
边界扫描技术; 内建自测试; PCB; 印刷电路板; 模拟器件; 电子工程; JTAG; 闪存器; 串行; 编程;

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