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现代分析仪器在电子元器件失效分析中的应用

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摘要

cqvip:电子元器件失效分析十分重要,采用新的分析技术和手段,可以快速定位失效部位,有助于电子元器件质量的提升。本文介绍了扫描电子显微镜(能谱仪)和红外光谱仪的原理特点,并利用扫描电子显微镜(能谱仪)和红外光谱仪对连接器和继电器进行失效分析和故障定位,该分析方法为电子元器件失效分析提供科学指导。

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来源
《仪器仪表用户》 |2020年第6期|103-106|共4页
作者
韩征权; 邹作涛; 潘炜; 田知静;
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作者单位

贵州航天电器股份有限公司贵阳 550009;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试、调整及设备;
关键词
失效分析; 扫描电子显微镜; 红外光谱; 连接器; 继电器;

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