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真空电子器件工作和非工作可靠性的探讨

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摘要

离几个军用真空电子器件在不同应用条件下的工作和非工作的可靠性情况，提出器件在非工作贮存期内的预计失效率模型，并６讨论在长期非工作贮存期内出现的失效机理及定性得出存放寿命与时间相关的结论。

著录项

来源
《电子产品可靠性与环境试验》 |2000年第3期|18-20|共3页
作者
苏振华; 张立雄;
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作者单位

信息产业部电子第五研究所;

信息产业部电子第五研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类结构和元部件;
关键词
真空电子器件; 失效机理; 预计模型; 可靠性;

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