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IDDQ测试技术及其实现方法

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摘要

ＩＤＤＱ测试是近几年来国外比较流行的ＣＭＳＯ集成电路测试技术。ＩＤＤＱ测试能够２检测出传统的固定值故障电压测试所无法检测的ＣＭＯＳ集成电路内部的缺陷、所以，能够明显提高ＣＭＯＳ集成电路的使用可靠性。本文叙述了ＩＤＤＱ测试的基本原理和ＩＤＤＱ测试在集成电路测试系统上的实现方法及测试实例。

著录项

来源
《电子产品可靠性与环境试验》 |1999年第1期|38-42|共5页
作者
谭超元;
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作者单位

电子部五所广州501信箱05分箱;

电子部五所广州501信箱05分箱;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TN432.06;
关键词
IDDQ; 电流测试; CMOS; 可靠性; 集成电路;

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