内部水汽对半导体器件可靠性影响的研究

徐爱斌

首页> 中文期刊> 《电子产品可靠性与环境试验》 >内部水汽对半导体器件可靠性影响的研究

内部水汽对半导体器件可靠性影响的研究

开具论文收录证明 >>

期刊封面封底目录下载 >>

文献代查 >>

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

由于各种原因,国内对器件内腔水汽的危害还没给予充分重视和有效控制,器件内部水汽含量较高,使之在环境温度低于封装内水汽露点温度的条件下工作与贮存时容易发生失效,对器件可靠性直接造成威胁,是个急待解决的问题。本研究目的在于了解国产军用密封半导体器件内部水汽现状及其对可靠性的影响,探讨揭示内部水汽问题的有效试验方法,寻求降低水汽影响,提高器件可靠性的主要途径。

著录项

来源
《电子产品可靠性与环境试验》 |1994年第2期|49-54|共6页
作者
徐爱斌;
展开▼
作者单位

无;

展开▼
原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类可靠性及例行试验;
关键词
半导体器件; 可靠性; 内部水汽; 水汽;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 净化对半导体器件成品率和可靠性的影响 [J] . 宋长江 . 微电子学与计算机 . 1977,第6期
2. 密封半导体器件内部水汽含量的控制 [J] . 顾振球 ,梁法国 ,刘云彩 . 半导体技术 . 2001,第7期
3. 气蜜封装半导体器件内部水汽无损检测—露点温度测试法 [J] . 徐爱斌 ,郑廷圭 . 电子产品可靠性与环境试验 . 1990,第005期
4. 微波对半导体器件破坏机理：一维器件模型及稳态处理 [J] . 余稳 . 武陵学刊：自然科学版 . 1998,第006期
5. 国家半导体器件质量监督检验中心中国实验室国家认可委员会认可实验室中电科技半导体器件可靠性中心国防科技工业实验室认可委员会认可实验室 [J] . . 微纳电子技术 . 2006,第8期
6. 金属间化合物对半导体器件可靠性的影响 [C] . 蒋祖良 ,葛永明 ,滕有玺 . 2010年全国半导体器件技术研讨会 . 2010
7. 辐射对半导体磁敏器件性能影响的研究 [A] . 王军 . 2007

内部水汽对半导体器件可靠性影响的研究

摘要

著录项

相似文献

相关主题

期刊订阅