MIL—STD—883D方法5004.9筛选程序

周敏

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MIL—STD—883D方法5004.9筛选程序

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摘要

1 目的本方法规定了用于微电路整批筛选的筛选程序,以期达到与预定用途相适应的质量和可靠性水平。本方法必须与规定了微电路的设计、材料、性能、控制以及文件资料要求的其它文件,例如:MIL-M-38510或适用的器件规范配套使用以确保器件达到规定的质量和可靠性水平。鉴于筛选等级直接影响产品成本以及质量和可靠性,因此本方法给出了与两个器件等级或产品保证等级相对应的两个标准的筛选等级。因为不可能由一个特定的筛选等级得出一个绝对的质量与可靠性水平,也不可能得出一个精确的预期应用中的失效成本,所以两个筛选等级的选择是任意的。本方法允许灵活地选用筛选的条件和应力水平,以便用户可以根据自己的经验,特定针对的资源。

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来源
《电子产品可靠性与环境试验》 |1994年第4期|64-69,63|共7页
作者
周敏;
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作者单位

无;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类测试技术及设备;
关键词
电子产品; 可靠性; 微电路; 筛选程序;

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