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数字集成电路测试矢量的生成

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摘要

电路的日益复杂和集成度的不断提高,使测试已成为集成电路设计中费用最高、难度最大的一个环节.文章主要讨论了测试中伪随机测试矢量的生成,并提出了改进其周期的办法,从而大大提高了故障的覆盖率.最后通过硬件描述语言Verilog在QuartusⅡ软件下进行仿真,验证了其正确性.

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来源
《电子与封装》 |2007年第4期|18-2048|共4页
作者
刘伟;
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作者单位

无锡市晶源微电子有限公司,江苏,无锡,214028;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类数字集成电路、逻辑集成电路;
关键词
随机测试序列; 硬件描述语言Verilog; 同余伪随机序列; 线性反馈移位寄存器;

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