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高频锁相环的可测性设计

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摘要

本文针对一款应用于大规模集成电路的CMOS高频锁相环,基于边界扫描技术进行了可测性设计.详细讨论了最高输出频率、输出频率范围和锁定时间参数的测试,给出了详细的测试电路和测试方法,仿真结果表明该方法有效可行.

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来源
《电子与封装》 |2005年第8期|23-26|共4页
作者
周红; 陈晓东;
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作者单位

中科院微电子研究所,北京,100029;

中科院微电子研究所,北京,100029;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
可测性设计; 边界扫描; 锁相环; 高频;

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