基于静态随机存取存储器型FPGA的测试技术发展

张颖; 毛志明; 陈鑫

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基于静态随机存取存储器型FPGA的测试技术发展

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可编程逻辑门阵列(FPGA)技术迅速发展,广泛应用于各种电子系统中,与此同时,对FPGA测试的需求也日益增多.针对FPGA的测试方法和特性进行综述研究,给出了测试对象FPGA的分类,根据FPGA的类型特点说明其测试重点,并着重介绍了目前应用最广泛的基于静态随机存取存储器(SRAM)型FPGA的内部资源结构.重点针对SRAM型FPGA,对相应的现有测试方法进行了分类与特性分析.最后对测试技术的发展方向进行了展望.

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来源
《电子与封装》 |2021年第1期|33-43|共11页
作者
张颖; 毛志明; 陈鑫;
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作者单位

南京航空航天大学电子信息工程学院南京211100;

南京航空航天大学电子信息工程学院南京211100;

南京航空航天大学电子信息工程学院南京211100;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类数字电路;大规模集成电路、超大规模集成电路;
关键词
FPGA测试; SRAM型FPGA; 内建自测试; 应用相关测试;

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