单粒子翻转效应的FPGA模拟技术

著录项

• 来源
  《电子与封装》 |2021年第9期|66-72|共7页
• 作者

  陈鑫; 施聿哲; 白雨鑫; 陈凯; 张智维; 张颖;

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• 作者单位

  南京航空航天大学电子信息工程学院 南京210016;

  南京航空航天大学电子信息工程学院 南京210016;

  南京航空航天大学电子信息工程学院 南京210016;

  南京航空航天大学电子信息工程学院 南京210016;

  南京航空航天大学电子信息工程学院 南京210016;

  南京航空航天大学电子信息工程学院 南京210016;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 大规模集成电路、超大规模集成电路;
• 关键词

  单粒子效应; 单粒子翻转; 超大规模集成电路; FPGA模拟; 故障注入;