首页> 中文期刊> 《电子与封装》 >第一台拥有自主知识产权的可用于集成电路封装的检漏仪问世

第一台拥有自主知识产权的可用于集成电路封装的检漏仪问世

         

摘要

日前,国内第一台拥有自主知识产权的可用于集成电路封装的检漏仪SFJ-251型氦质谱检漏仪在安徽合肥皖仪科技有限公司问世。SFJ-251型氦质谱检漏仪是该公司借鉴国外先进检漏技术和多年质谱生产经验设计而成的专门用于电子元器件检漏的仪器。该公司总经理臧牧先生表示,SFJ-251型氦质谱检漏仪不仅将被广泛用于集成电路封装,

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号