基于J750Ex-HD的32位MCU芯片在线测试技术

余永涛; 王小强; 余俊杰; 陈煜海; 罗军

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基于J750Ex-HD的32位MCU芯片在线测试技术

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微控制器(Microcontroller Unit,MCU)芯片以其高性能、多功能、可编程、低功耗等优点被广泛应用于各种信号处理和嵌入式系统。MCU芯片在线测试是保证产品质量的重要技术手段,如何实现高性能和复杂功能的高效测试是MCU芯片在线测试的难点。针对一款32位高性能MCU芯片,基于J750Ex-HD型集成电路ATE测试系统开展了MCU芯片在线测试技术研究,详细说明了MCU芯片内部的POR/PDR、GPIO、ADC、Trimming、存储器等功能模块的功能性验证方法。按照MCU在线测试方法流程,设计制作了MCU芯片测试适配器,开发了基于VBT编程的芯片测试程序,实现了批量MCU芯片的在线测试。

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来源
《电子与封装》 |2022年第3期|35-40|共6页
作者
余永涛; 王小强; 余俊杰; 陈煜海; 罗军;
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作者单位

工业和信息化部电子第五研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
微控制单元; ATE测试系统; 功能测试; 修调测试; ADC测试;

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