边界扫描寄存器电路的性能分析和优化设计

孙诚; 邵健

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边界扫描寄存器电路的性能分析和优化设计

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从边界扫描链(Boundary Scan Chain,BSC)和边界扫描寄存器(Boundary Scan Register,BSR)的电路模型展开讨论,分析其电路结构和工作原理,包括几个重要的控制信号,对其结构的优化提供了理论支撑。在此基础上论述了DesignWare BSR电路的几种设计方法,阐述电路如何进行基于边界扫描的仿真,分别分析输出功能和输入功能仿真下测试数据在电路中的流向,并将两种仿真功能下的数据流向合二为一,以实现电路结构的优化设计。同时针对门数量、面积、延迟和静态功耗这些参数指标对BSR电路进行性能分析,并根据优化后的电路构建最优的BSC模型。

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来源
《电子与封装》 |2022年第3期|60-68|共9页
作者
孙诚; 邵健;
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作者单位

中电科申泰信息科技有限公司;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类设计;
关键词
边界扫描链; 边界扫描寄存器; 性能分析; 优化设计; 仿真; 数据流;

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