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LTCC基板上焊球失效模式影响因素分析

         

摘要

基于LTCC基板的BGA封装结构在高密度射频封装领域被受到特别关注.在对其板级集成互联可靠性研究的基础上,以焊球失效模式为切入点,从基板及导体材料、焊盘结构、焊接工艺等方面展开分析,探讨了LTCC基板焊球失效模式的影响因素以期改善焊球失效情况.

著录项

  • 来源
    《电子工艺技术》 |2018年第3期|133-135,139|共4页
  • 作者单位

    中国电子科技集团公司 第二十九研究所,四川 成都 610036;

    中国电子科技集团公司 第二十九研究所,四川 成都 610036;

    中国电子科技集团公司 第二十九研究所,四川 成都 610036;

    中国电子科技集团公司 第二十九研究所,四川 成都 610036;

    中国电子科技集团公司 第二十九研究所,四川 成都 610036;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 一般性问题;
  • 关键词

    焊球; 失效模式; 可靠性; LTCC;

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