高可靠集成电路产品风险管理的实践与探究——以A研究所为例

刘皓; 王永平; 张东明; 李学武; 虞坚

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高可靠集成电路产品风险管理的实践与探究——以A研究所为例

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随着我国航天事业的发展,相关产业对集成电路产品的需求逐年提高,集成电路研制单位普遍面临着供应链新形态和更高标准的用户要求。本文以A研究所为例,阐述了风险管理在高可靠集成电路产品研制过程的重要作用。通过对高可靠集成电路产品研制流程梳理,对各阶段进行风险识别和分析,提炼出高可靠集成电路产品的任务输入是否完整、设计方案是否完备、协作配套和物资是否保障、测试验证及摸底是否可靠、产品研发生产流程是否可控等五项风险点。通过对这五个关键点制定风险应对方案,采取应对措施,达到高可靠集成电路产品研制过程风险控制的目的。

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来源
《企业改革与管理》 |2023年第6期|28-30|共3页
作者
刘皓; 王永平; 张东明; 李学武; 虞坚;
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作者单位

北京微电子技术研究所;

北京100010;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类一般性问题;
关键词
风险管理; 集成电路; 高可靠; 流程;

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