迈克尔逊干涉仪测量平行透明物厚度或折射率

万伟; 周竣峰; 邵剑波; 王余刚

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迈克尔逊干涉仪测量平行透明物厚度或折射率

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迈克尔逊干涉仪可较方便的获得稳定的等倾干涉现象.光路中介质特性的变化直接影响等倾干涉条纹的分布状况.用等倾干涉测量介质厚度或折射率,一般须避免对难于测量的入射光倾角和干涉条纹绝对级次等量的确定,传统的方法往往采取移动反射镜或改变被测介质的几何位置以获得等倾条纹中心级次改变来实现.如果合理利用透镜的成像原理和入射光小角度下良好的近似关系,则可简便地通过测定等倾干涉条纹直径,来确定平行透明物的厚度或折射率.

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来源
《实验科学与技术》 |2011年第2期|37-39|共3页
作者
万伟; 周竣峰; 邵剑波; 王余刚;
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作者单位

西南科技大学理学院,四川绵阳,621002;

西南科技大学理学院,四川绵阳,621002;

西南科技大学理学院,四川绵阳,621002;

西南科技大学理学院,四川绵阳,621002;

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正文语种 chi
中图分类干涉与衍射;教学研究与改革;
关键词
迈克尔逊干涉仪; 等倾干涉; 条纹直径;

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