首页> 中文期刊> 《刑事技术》 >PIXE技术在物证鉴定中的应用前景分析

PIXE技术在物证鉴定中的应用前景分析

         

摘要

介绍了粒子激发X-射线荧光分析技术及其在物证检验领域的应用,展望了它的前景,为我们进行气态物质分析、对界面的分析、珍贵文物的无损鉴定提出了一条新的思路.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号