首页> 中文期刊> 《黑龙江科技信息》 >一种高复用性高速IC SLT测试系统

一种高复用性高速IC SLT测试系统

         

摘要

SLT-Systemleveltest,作为芯片测试的最后一道检验程序,其重要意义可想而知.而功能多种多样的IC在测试起来情况也是千差万别.本文提出了一种基于FPGA进行SLT设计,可以使得随着芯片集成度提高,IO数量增多,高速信号种类也增多,且测试项目也随之增加的情况下能在同一个平台上满足测试需求.且测试板成本相对较低,开发周期相对较短且可以节省芯片测试时间,减少芯片测试成本.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号