首页> 中文期刊> 《科学技术创新》 >对高介电常数栅介质Nd_2O_3薄膜生长速率影响的分析

对高介电常数栅介质Nd_2O_3薄膜生长速率影响的分析

         

摘要

本文生长了不同前驱体加热温度以及不同淀积温度下的Nd2O3薄膜,通过分析不同条件下的薄膜生长速率从而给出了薄膜生长的最佳工艺参数。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号