同步动态随机存储器辐射效应测试系统研制

姚志斌; 罗尹虹; 陈伟; 何宝平; 张凤祁; 郭红霞

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同步动态随机存储器辐射效应测试系统研制

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在分析同步动态随机存储器(SDRAM)辐射效应主要失效现象的基础上,研制了具备了读写功能测试、刷新周期测试及功耗电流测试三种功能的SDRAM辐射效应在线测试系统,并开展了SDRAM的总剂量效应实验研究.结果表明,总剂量效应会导致SDRAM器件的数据保持时间不断减小,功耗电流不断增大以及读写功能失效.实验样品MT48LC8M32B2的功能失效主要由外围控制电路造成,而非存储单元翻转.数据保持时间虽然随着辐照剂量的累积不断减小,但不是造成该器件功能失效的直接原因.

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来源
《强激光与粒子束》 |2013年第10期|2699-2704|共6页
作者
姚志斌; 罗尹虹; 陈伟; 何宝平; 张凤祁; 郭红霞;
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作者单位

西北核技术研究所,西安 710024;

西北核技术研究所,西安 710024;

西北核技术研究所,西安 710024;

西北核技术研究所,西安 710024;

西北核技术研究所,西安 710024;

西北核技术研究所,西安 710024;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类航空、航天的应用;杂质和缺陷;
关键词
同步动态随机存储器; 辐射效应; 测试系统; 刷新周期; 总剂量效应;

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