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墓于辐射回避的SRAM型FPGA瞬时电离辐射效应测试系统研制

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介绍了瞬时电离辐射环境中SRAM型FPGA配置存储器测试的实现方法,提出了将辐射回避应用于FPGA瞬时电离辐射效应测试的方法,设计了可辐射回避的在线测试系统,并对FPGA进行了瞬时电离辐射效应实验.结果表明,测试系统能准确、可靠地进行配置存储器测试,辐射回避是实现大规模集成电路瞬时电离辐射效应测试的有效手段.

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来源
《第八届（2012）北京核学会核应用技术学术交流会》|2012年|598-601|共4页
会议地点北京
作者
QI Chao; 齐超; LIN Dong-sheng; 林东生; CHEN Wei; 陈伟; YANG Shan-chao; 杨善潮; WANG Gui-zhen; 王桂珍; GONG Jian-cheng; 龚建成;
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作者单位

北京核学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类程序设计;
关键词
FPGA瞬时电离辐射效应测试系统; 优化设计; 性能测试; 辐射回避;

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