等离子体诊断用Schwarzschild显微镜的光学设计

著录项

• 来源
  《强激光与粒子束》 |2011年第2期|397-402|共6页
• 作者

  黄怡; 穆宝忠; 王新; 翟梓融; 伊圣振; 王占山;

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• 作者单位

  同济大学物理系,精密光学工程技术研究所,上海,200092;

  上海市特殊人工微结构材料与技术重点实验室,上海,200092;

  同济大学物理系,精密光学工程技术研究所,上海,200092;

  上海市特殊人工微结构材料与技术重点实验室,上海,200092;

  同济大学物理系,精密光学工程技术研究所,上海,200092;

  上海市特殊人工微结构材料与技术重点实验室,上海,200092;

  同济大学物理系,精密光学工程技术研究所,上海,200092;

  上海市特殊人工微结构材料与技术重点实验室,上海,200092;

  同济大学物理系,精密光学工程技术研究所,上海,200092;

  上海市特殊人工微结构材料与技术重点实验室,上海,200092;

  同济大学物理系,精密光学工程技术研究所,上海,200092;

  上海市特殊人工微结构材料与技术重点实验室,上海,200092;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 X射线;
• 关键词

  Schwarzschild显微镜; 空间分辨力; 视场; 公差;