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背光阴影成像技术表征ICF靶丸内表面粗糙度

         

摘要

发展了背光阴影成像技术,用于诊断透明ICF冷冻靶冰层内表面质量.分析了单层球壳阴影图像中形成亮环的物理机制.用光学追迹软件Tracepro模拟产生了透明单层球壳的阴影图像,用于研究亮环位置与球壳厚度及折射率的关系.建立了背光阴影成像实验装置,获得了透明单层球壳具有明显亮环的实验阴影图像.编制了阴影图像处理软件,获得了靶丸内表面1维功率谱曲线,并据此计算出靶丸内表面均方根粗糙度.理论分析、软件模拟及实验研究均表明,背光阴影成像技术是透明冷冻靶冰层内表面质量的有效诊断方法.

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