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高重复频率飞秒激光对面阵CCD的干扰和破坏

         

摘要

采用800 nm,100 fs的超短脉冲激光器对硅面阵CCD进行辐照实验,观测到饱和、串扰以及永久性损伤等多种可能造成成像器件失效的现象,特别是在激光能量较高时,发现CCD在成像时出现了黑白屏的现象.在飞秒激光器以1,10和1 000 Hz工作的条件下,分别测量了硅面阵CCD的饱和阈值、串扰阈值和破坏阈值.对破坏后的CCD器件进行了显微分析.在1 kHz工作的条件下进行了视场外干扰实验,观察到串扰和全屏饱和的现象.

著录项

  • 来源
    《强激光与粒子束》 |2007年第11期|1783-1786|共4页
  • 作者单位

    国防科学技术大学,光电科学与工程学院,长沙,410073;

    国防科学技术大学,光电科学与工程学院,长沙,410073;

    湖南大学,计算机与通信学院,长沙,410073;

    国防科学技术大学,光电科学与工程学院,长沙,410073;

    国防科学技术大学,光电科学与工程学院,长沙,410073;

    国防科学技术大学,光电科学与工程学院,长沙,410073;

    国防科学技术大学,光电科学与工程学院,长沙,410073;

    国防科学技术大学,光电科学与工程学院,长沙,410073;

    湖南大学,计算机与通信学院,长沙,410073;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 激光的应用;
  • 关键词

    飞秒激光; 面阵CCD; 破坏机理; 串扰; 饱和;

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