合肥储存环电子束流寿命分析

徐宏亮; 张剑锋; 黄贵荣; 孙葆根; 李珏忻; 何多慧

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合肥储存环电子束流寿命分析

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电子束流寿命是个很重要的指标,直接影响合肥光源的正常运行,为此研究了影响束流寿命的因素,测量了高频腔压、耦合度以及束团长度对电子束流寿命的影响,研究显示合肥储存环的电子束流真空寿命和托歇克寿命相当;并且利用束损系统测量了因托歇克寿命的变化而造成束流损失的相对变化;通过增加耦合度增加束流的垂直发射度,有效地提高了束流的寿命,保证了合肥光源的正常运行.

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来源
《强激光与粒子束》 |2006年第3期|455-458|共4页
作者
徐宏亮; 张剑锋; 黄贵荣; 孙葆根; 李珏忻; 何多慧;
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作者单位

中国科学技术大学,国家同步辐射实验室,合肥,230029;

中国科学技术大学,国家同步辐射实验室,合肥,230029;

中国科学技术大学,国家同步辐射实验室,合肥,230029;

中国科学技术大学,国家同步辐射实验室,合肥,230029;

中国科学技术大学,国家同步辐射实验室,合肥,230029;

中国科学技术大学,国家同步辐射实验室,合肥,230029;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类高频系统（加速系统）;
关键词
真空寿命; 托歇克寿命; 腔压; 耦合度; 束流损失;

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