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电子束亮度及多孔板法测量发射度的原理

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本文探讨了利用多孔板法测量四维横向相空间中均匀分布以及高斯分布的电子束发射度的测量原理。结果表明,对于四维均匀分布的电子束,该法测量的是电子束的边发射度,并且光斑尺寸随着小孔位置不同而变化;对于高斯分布的电子束,该法测量的是电子束的均方根发射度,其光斑尺寸与小孔位置无关。

著录项

来源
《强激光与粒子束》 |1989年第4期|344|共1页
作者
施将君;
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作者单位

无;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TN247.01;
关键词
电子束; 束边发射度; 多孔板法;

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