同步动态随机存储器时序参数容限测试方法研究

南江; 孔宪伟; 胡海涛; 李进

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同步动态随机存储器时序参数容限测试方法研究

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对同步动态随机存储器(SDRAM)的时序参数进行了分析,并采用Shmoo测试方法,对某国产DDR2 SDRAM的tRCD、tRAS、tRP、tRC、tCK等时序参数的容限进行了测试.通过与JEDEC标准的对比验证,证明该产品的时序参数满足JEDEC标准的要求,并得到了相关参数的容限,为该类产品的质量评估和可靠应用提供了参考.

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来源
《信息技术与标准化》 |2021年第11期|43-4661|共5页
作者
南江; 孔宪伟; 胡海涛; 李进;
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作者单位

中国电子技术标准化研究院;

中国电子技术标准化研究院;

中国电子技术标准化研究院;

西安紫光国芯半导体有限公司;

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正文语种 chi
中图分类
关键词
SDRAM; 时序参数; Shmoo测试; DDR2;

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