InSb焦平面探测器高低温循环特性研究

王洋; 鲁星; 孟超; 刘俊明; 邝永变; 孟庆端; 朱旭波; 司俊杰

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制冷型In Sb红外焦平面探测器工作时需降温至低温（80 K）,器件在整个生命周期会经受从常温（300 K）到低温（80 K）的上千次高低温循环。针对该型探测器开展了高低温循环特性试验,测试和分析了上千次高低温循环过程中器件光电性能、杜瓦热负载和J-T制冷器特性的变化。试验结果表明,探测器可以经受至少2 000次高低温循环,并且探测率变化的幅度≤5.5%、响应率变化的幅度≤4.8%、盲元数未发生增加。研究结果为器件的工艺研发和改进提供了参考。

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来源
《红外与激光技术》 |2015年第12期|3701-3706|共6页
作者
王洋; 鲁星; 孟超; 刘俊明; 邝永变; 孟庆端; 朱旭波; 司俊杰;
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作者单位

1. 中国空空导弹研究院 2. 驻中国空空导弹研究院军事代表室 3. 红外探测器技术航空科技重点实验室 4. 河南科技大学电子信息工程学院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类红外探测、红外探测器;
关键词
InSb焦平面探测器; 高低温循环; 参数变化; 可靠性;

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