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曲海成; 李艳辉; 苏栓; 杨春章; 谭英; 高丽华; 王善力;
昆明物理研究所,云南昆明,650223;
分子束外延; HgCdTe; 反射式高能电子衍射仪; 脱氧; 温度;
机译:MBE生长的BaTiO3薄膜的RHEED观察
机译:Rheed ++:在薄外延薄膜生长期间,用于模拟Rheed强度振荡的C ++框架
机译:CaF_2 / Si / CaF_2结构MBE生长过程中RHEED镜面反射的振荡强度分析
机译:RHEED,AES和RBS研究电子束辐照后MBE生长的CaF_2薄膜的损伤
机译:通过同时使用原位反射高能电子衍射(RHEED)和反射电子能量损失谱(REELS)来表征MBE生长的金属,半导体和超导体薄膜和界面
机译:使用RHEED模式在MBE上的GaAs(001)上可靠地合成自运行的Ga液滴
机译:RHEED控制的Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体超薄膜MBE生长及拉曼光谱评估的研究
机译:monte-Carlo模拟mBE(分子束外延)III-V半导体的生长:RHEED强度动力学的生长动力学,机制和后果
机译:MBE或MO-MBE工艺形成Bi-Sr-Ca-Cu-O超导薄膜
机译:Zno / gan异外延薄膜在MBE生长过程中控制显示薄膜晶体极性的方法
机译:使用MBE和铋生长的III类氮化物薄膜
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