近场光学显微技术

王海潼; 刘斐

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本文在介绍近场光学显微镜原理的基础上,对近场光学显微技术进行了一定深度的探讨,并着重研究了纳米级探针的制作和纳米级样品与探针间距的控制这两个近场光学显微技术中的关键问题,说明了近场光学显微探针的工作方式,阐述了近场光学成像的衬度类型,介绍了近场光学显微技术在多个领域的应用.在参考大量国内外最新研究成果的基础上,提出了一些个人的见解.

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来源
《应用光学》 |2005年第3期|36-40|共5页
作者
王海潼; 刘斐;
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作者单位

西安武警工程学院通信工程系;

陕西;

西安;

710086;

西安武警工程学院通信工程系;

陕西;

西安;

710086;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类显微镜;
关键词
近场光学显微技术; 探针; 样品一探针间距;

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